中古 RUDOLPH FE III #293655511 を販売中

RUDOLPH FE IIIは、薄膜特性評価およびロッキングカーブ解析タスク用に設計された楕円計です。ステップモータ駆動のRUDOLPH FE Nomarski干渉計を搭載し、様々な材料で極薄膜を正確に測定することができます。楕円計の円周移動の線形非連続光場の照明源は、20-100 μ mのスポットサイズで4-85°の入射角からの測定を可能にします。これらの測定は、フィルムの厚さ、光学異方性、およびその他のパラメータに関する情報を提供します。RUDOLPH FEIII機器のコンポーネントには、光学ヘッド、タッチスクリーンモニター付きPC、サンプル回転ユニット、電源、遠隔真空システム、サンプルステージが含まれます。光学ヘッドは角度測定、画像形成、および表示機能を提供し、さまざまな交換可能な付属品を受け入れます。その光学系は、0。6328 μ mの波長を持つヘリウムネオンレーザーからの単色光を使用し、ビームスプリッタ、対物レンズ、光検出器、および他のいくつかの光学部品が含まれています。PCは、光学ヘッドを制御するだけでなく、測定データを格納することができます。また、Webブラウザインターフェイスを介して遠隔操作が可能で、他のPCやタブレットからのフィールドアプリケーションや遠隔操作に適しています。統合されたZenith ProcessingⓇソフトウェアは、単一の測定からのライブフィルム特性評価と、このモデルから期待される優れたデータ品質を備えた高解像度のロッキングカーブを提供します。サンプル回転ユニットは、スペクトル分解能の高いロッキングカーブを取得するために必要な毎分最大40 000回転でサンプルを回転させることができます。遠隔真空ユニットは、低エネルギーのサンプル調製に使用され、アライメント装置として使用できるLED顕微鏡も装備されています。FE-IIIには、サンプルステージを最大100 μ mの範囲で移動するための精密ステッピングモーターとボールスクリューが装備されています。これにより、複数層のサンプルを正確に分析することができます。さらに、サンプル温度、圧力、湿度を制御して正確な特性評価を行うことができます。全体的に、FEIIIは薄膜パラメータの測定に適した高度で信頼性の高い楕円計です。高度な光学系、精密サンプルステージ、使いやすいソフトウェアにより、さまざまなサンプル分析タスクに最適です。