中古 RUDOLPH FE 7-D #9142687 を販売中

RUDOLPH FE 7-Dは、RUDOLPH Research Analyticalの最先端の楕円計です。薄膜測定、光学フィルム特性、ドーピング試験に関連する広範な分光測定が可能です。RUDOLPH FE 7Dは、プロセス制御および研究アプリケーションで使用するための最も厳しい要件を満たす優れた精度、精度、再現性を提供します。FE-7 Dは、屈折率、厚さ、構造、化学組成などの薄膜光学特性を測定するように設計されています。これは、薄膜を介して伝達された光線の偏光状態変化の測定に基づいている楕円測定技術を使用しています。この方法は、比類のない精度、速度、および感度を提供します。幅広い機能により、多種多様な光学測定を迅速かつ正確に行うことができます。FE 7-Dには、さまざまな測定機能が含まれています。マルチアングルサンプルステージにより、広範囲のインシデント角度にわたって高い精度で薄膜を測定できます。FE 7Dはまた、高解像度CCD検出器を備えており、高いスループットで紫外、可視、近赤外領域での分光測定を可能にします。さらに、このデバイスには、データの分析、可視化、および報告を可能にする高度なソフトウェアが装備されています。ソフトウェアのユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスにより、ナビゲートとナビゲートが簡単になります。RUDOLPH FE-7 Dには幅広い用途があります。半導体やナノ構造で使用されるコーティング、誘電体、金属などの薄膜の特性評価に使用できます。また、屈折率、絶滅係数、光学異方性などの基板の光定数を測定するためにも使用されます。さらに、RUDOLPH FE 7-Dは、ドーパントや不純物などのサンプルの化学成分と、ひずみや質感などの物理的性質を調べることができます。全体として、RUDOLPH FE 7Dは強力で高度な楕円計であり、高精度、高精度、再現性を備えた広範囲の分光測定が可能です。この汎用性の高いデバイスは、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスと複数の測定機能を備えているため、プロセス制御と研究アプリケーションの両方に最適です。