中古 RUDOLPH Auto EL #293819018 を販売中

RUDOLPH AUTO ELは、ナノスケール上の正確な厚さと光学特性測定用に設計された先進的な非破壊光楕円計です。このデバイスは、特許取得済みのソフトウェア制御偏光器を備えた単一の自動楕円計ヘッドを使用しており、平面基板の顕微鏡測定から曲面または不規則な表面の測定まで、さまざまな基板材料の光学特性を測定できます。このデバイスは、レーザースポットサイズの可変構成を可能にすることにより、分光楕円測定を行うこともできます。RUDOLPH AUTOELのユニークな設計は、高分解能の可変角度楕円計と自動偏光器で構成されており、正確で非破壊的な多波長楕円測定を実現します。この装置は反射光の強度と偏光を測定し、試料表面の光学特性を決定することができます。特許取得済みのソフトウェアは、偏光器の位置を発生角度の現在の角度に正確にリンクし、発生角度の最大角度よりも大きい角度の測定を可能にします。このデバイスは、高分解能の分光楕円測定用に~ 2 mmレーザースポットサイズ（850〜2200 nmの波長範囲）を備えています。これにより、材料の屈折率や絶滅係数などの光学定数を迅速かつ効率的に決定することができます。また、コンピュータ制御のステージを利用した自動膜厚マッピング機能も備えています。この機能により、サブミクロン分解能でフィルムの厚さをマッピングすることができます。AUTO ELは、ナノスケールの光学特性を正確に測定する必要がある半導体、光電子、化学、航空宇宙、医療分野の研究者にとって理想的な機器です。操作は非常に簡単で、シンプルなユーザーインターフェイスと高度なオートメーション機能により、経験の浅いユーザーでも簡単に操作できます。また、軽量で輸送も容易なため、現場での測定に最適です。