中古 RUDOLPH AUTO EL IV #9105735 を販売中

RUDOLPH AUTO EL IVは、光学、半導体材料、薄膜分析の分野で使用するために設計された楕円計です。この装置は、厚さ、屈折率、消滅係数などの薄膜の光学パラメータを波長と極角レンジのスキャンで測定することができます。RUDOLPH AUTOEL IVは、オペレータが薄膜を正確に測定し、光学データを分析できる自動モジュラー楕円計システムです。ノーマルおよびアングル依存のフィルム特性評価用に、波長範囲が190〜1700nmの厚いフィルムに最適な効果的なダイナミックレンジを備えています。AUTO EL IVは、ユーザーフレンドリーなソフトウェアプログラムによって制御される自動データ取得シーケンスを使用します。ソフトウェアには、薄膜タイプと材料の範囲のプリセットとパラメータ設定が含まれています。この機能により、フィルムの複雑さに関係なく、結果を正確かつ効率的に分析することができます。また、19インチのタッチスクリーンモニターを搭載し、出力データをリアルタイムで読み取り、グラフィカルディスプレイを備えた直感的なユーザーインターフェイスを提供します。ユーザーは、ディスプレイから直接パラメータを制御および変更し、測定された結果を監視することができます。同社はまた、機器の精度と精度を高めるためのアクセサリーの範囲を提供しています。これらには、サンプルハンドリング用の回転段の範囲、温度依存性フィルム特性用の温度コントローラ、およびフィルムの自動測定用のサンプルホルダーが含まれます。また、デュアル波長偏波計やASIC検出器など、精度と解像度を向上させるためのさまざまなオプションも提供します。AUTOEL IVは、オプトエレクトロニクスおよび薄膜分析業界の誰にとっても最適なツールです。高度な機能とユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えたこの機器は、入力作業を最小限に抑えて正確な結果を得るための理想的なソリューションです。