中古 RUDOLPH / AUGUST Ultra II #9285847 を販売中

RUDOLPH/AUGUST Ultra II ellipsometerは、薄膜および薄膜誘電体の光学特性を測定するために使用される高度で高精度な機器です。偏光を用いて薄膜と基板の界面を解析し、薄膜の光学特性（屈折率、絶滅係数、厚さなど）の変化を解析します。AUGUST Ultra II ellipsometerは、最先端のテクノロジーと、ユーザーフレンドリーでカスタマイズ可能なソフトウェアインターフェイスの両方を組み合わせてデータ収集と分析を行います。このデバイスは、従来の散乱法よりも精度の高い測定と特性評価の結果を得るために、Mueller-matrix Ellipsometry （MME）と分光楕円法（SE）の両方の技術を利用しています。RUDOLPH Ultra IIには、他の楕円計と区別する多くの革新的なコンポーネントがあります。3つの直交偏光ビームを使用して、楕円比パラメータ（デルタとpsi）の振幅と位相シフトの両方を同時に測定できます。また、自動フォーカスシステムを搭載し、テスト中のサンプルの鮮明な画像を確保し、バックグラウンド補正を自動化して信号とノイズの比率を向上させます。システムに提供されるソフトウェアプラットフォームは、正確で再現性のあるデータ取得と詳細な分析を可能にします。これは、データ入力と設定のためのユーザーフレンドリーなメニュー、一連の測定を設定するプロセスを歩くデータ収集ウィザード、およびリアルタイムでデータをグラフィカルに評価するためのグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を提供します。最後に、Ultra IIは、さまざまなサンプルホルダー、電動ステージ、イメージングシステム、およびUV/vis/nIR分光計など、さまざまなアクセサリとアップグレードオプションを誇っています。これらの部品はすべて、RUDOLPH/AUGUST Ultra IIエリプソメータの汎用性と機能性を高め、薄膜厚と光学特性の正確な測定が必要なアプリケーションに最適です。