中古 PLASMOS SD 4000 #293815186 を販売中

PLASMOS SD 4000 Ellipsometerは、薄膜の光学特性および物理特性を測定するために設計された汎用性の高い高精度機器です。この装置は、屈折率、絶滅係数、光学厚さ、および薄膜の化学組成を正確かつ再現可能に測定することができます。このように、半導体、薄膜、および生体医療用途における材料の特性評価には非常に貴重なツールです。SD 4000は、分光楕円法と可変角度楕円法（VASE）の組み合わせを採用しており、スペクトル、角度依存楕円法データの取得が可能です。まず、入射光線を偏光して試料表面に向ける。その後、サンプルは、その物理的および光学的特性に応じて反射光ビームの偏光状態を変化させます。検出された光出力を分析して、サンプル材料に関する必要な情報を決定します。この機器には、Siフォトダイオード検出器を備えたAxcelis製のOptistar™スキャンモノクロメータと、UV-VISとNIRの両方の範囲でデータを取得できるADwinコントローラが含まれています。モノクロメータと検出器は、迅速かつ効率的なデータ収集のために、同時にスペクトルおよび角度スキャンに一時的に同期されます。PLASMOS SD 4000の調整可能な測定パラメータを使用して、さまざまな基材や環境条件をシミュレートできます。これには、発生角度の範囲（66°、70°、74°、および78°）と入射光線（s、 p、および混合）の複数の偏光が含まれます。これらの特徴により、古典的な楕円測定では証明されていない薄膜を測定することができます。PLASMOS SD 400は、特定のアプリケーションで使用できる追加機能も提供します。その温度制御ユニットは、温度依存の結果をキャプチャすることができます。また、様々なスタイルの対物レンズと互換性があり、高度に曲面を解析することも可能です。全体的に、SD 4000は、屈折率、絶滅係数、光学厚さ、および薄膜の化学組成の正確かつ再現性のある測定を提供するために構築されたフル機能、操作が容易な楕円計です。高度な技術と機能を取り入れながら、汎用性と柔軟性を提供し、幅広い材料特性評価アプリケーションに最適なツールです。