中古 PLASMOS SD 2003 #293654305 を販売中

Edinburgh InstrumentsのPLASMOS SD 2003は、半自動、超精密分光エリプソメータで、表面の光学特性と材料特性を迅速かつ正確に測定するように設計されています。これは、極性パラメータを特性評価し、幅広い材料や用途の表面解析を行うための高度なツールです。このプラットフォームは、偏光、ヌル、通常の光源、偏光器、補償器、二重モノクロメータを使用して、特定の条件下でサンプルから反射する光の偏光状態の変化を分析します。次に、サンプル光を検出し、ロックインアンプによって高感度でリニアな方法で計算します。器械にΨおよびΔの手動で調節可能な楕円測定の角度、0-60度の調節可能なサンプル高さおよびライトの4つのインシデントの角度があります：72。5、75、77。5、および80度。SD 2003はまた、0。001°の精度で、発生角度、反射角度、屈折率、薄膜層の厚さ、表面粗さなどのさまざまな特性に関するデータを提供します。さらに、さまざまなソフトウェアパッケージをインストゥルメントと統合して、データ収集と分析機能をさらにカスタマイズできます。これらの強力なツールは、迅速な応答時間と使いやすい制御とともに、光学実験室、研究機関、半導体産業などのさまざまな用途に適しています。さらに、機器はコンパクトなフットプリントを備えているため、卓上の使用に適しています。小片、薄膜、被覆面、ウエハーなど、さまざまなサンプルタイプで使用できます。PLASMOS SD 2003は、表面の特性評価における汎用性と精度により、産業試験から材料科学、医薬品分析まで、多くの用途において非常に重要です。