中古 J.A. WOOLLAM VASE #9224810 を販売中
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販売された
ID: 9224810
Ellipsometer
Spectral range: Up to 193 to 3200 nm
Reflection
Transmission ellipsometry
Flexible measurement capability:
Variable wavelength
Angle of incidence.
J。A。 WOOLLAM VASEは、材料の光学特性を測定するために使用される楕円計です。このデバイスは、フィルムの厚さ、屈折率、絶滅係数、および基材の光学特性などの正確な光学情報をユーザーに提供します。VASEは、フラットな光学面での薄膜特性の決定に最適です。シリコンウェーハから金属、ガラス、プラスチック、塗料まで幅広い用途に使用できます。Woollam J。A。 WOOLLAM VASEは、産業用グレードの分光楕円計、コリメーションオプティクス、レーザダイオード光源、エレクトロニクス、コンピュータ化されたユーザーインターフェイス、およびロータリーステージで構成されています。このデバイスは、さまざまな検出モードを使用して、幅広い楕円測定および反射測定を行うことができます。これには、単一の波長、複数の波長、複数の角度、および温度依存の測定が含まれます。レーザダイオード光源は、測定するサンプルを照射するために使用され、衝突光学系によって偏光ビームスプリッタに誘導されます。ビームスプリッタは、光を2つの直交偏光成分に分割し、それらを2つの別々の検出器アームに送ります。検出器は反射光の偏光を測定し、回転ステージを使用してサンプルを回転させて測定を行います。2つの検出器によって収集されたデータは、材料の複雑な反射率と透過率を計算するために使用されます。このデータは、コンピュータ化されたユーザーインターフェイスによって処理され、サンプル材料の屈折率、厚さ、および光学定数を決定します。結果は、数値フォーマットとグラフィカルフォーマットの両方でインターフェイス上に表示され、さらに分析するための診断情報を提供します。VASEは、幅広い測定モードと精度を備えた材料の光学解析に優れたデバイスです。薄膜特性評価、成膜、腐食試験などの用途に最適です。また、表面粗さ、接着、光散乱測定などの他の用途にも使用できます。
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