中古 J.A. WOOLLAM M-2000X #9231739 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000Xは、材料の光学特性を測定するために使用される楕円計です。楕円測定は、材料の厚さ、屈折率、絶滅係数、光学定数を決定するために使用される非破壊技術です。この楕円計は、材料サンプルから反射する単色光線の偏光の変化を測定し、その光学特性を決定します。M-2000Xは、光学部品、機械部品、電子部品を業界をリードしています。光学モジュールには、超高精度のWollastonプリズムを搭載した高性能InGaAs分光計が含まれています。このプリズムは、広いソース角度から高い数値開きまでの偏光を測定することができます。光はサンプルと相互作用し、コンピューター制御の電動測位システムを介して分光計に向けられます。J。A。 WOOLLAM M-2000Xで測定した測定は、振動とほこりのない環境で実行され、正確で再現性のある結果が得られます。M-2000Xの主な機能には、紫外線から赤外線領域までの範囲のサンプルの光定数の測定、薄膜光定数、膜厚測定、ひずみ勾配、層ごとの厚さ、誘電体の定数測定などがあります。J。A。 WOOLLAM M-2000Xは、自動測定スループット、直感的なWindowsインターフェイス、強力なデータ分析とプロット機能、幅広いサンプルホルダーとの互換性など、ユーザーフレンドリーな機能も提供しています。さらに、この機器は、ユーザーコントロール、柔軟性、精度が不可欠な生産ラインや研究プロセスに簡単に統合できるように設計されています。M-2000Xは、幅広い光学研究および測定ニーズに適用可能な優れた性能を備えた革新的で信頼性の高い楕円計です。それが提供する精度と汎用性の比類のない組み合わせは、さまざまなアプリケーションに理想的なソリューションになります。