中古 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9277548 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000UIは、薄層の光学特性を精密に測定するために開発された高度な楕円計です。M-2000UIは、屈折率、層の厚さ、吸収係数、および異なる深さと角度での結晶方向に関する正確なデータを提供します。半導体、ポリマー、コーティング、薄膜などの材料の物理的性質を特定するのに役立ちます。J。A。 WOOLLAM M-2000UIは、偏光装置、減衰板のペア、シリコン検出器、光学ステージで構成されています。波長は測定される材料によって253。6から700ナノメートルまで変えることができます。光は偏光され、次に2つの平面偏光部品に分割されます。その後、データを記録して分析し、サンプル材料に関する情報を決定します。M-2000UIには、反射計、光学顕微鏡、照明レベルを調整するための調整可能な電源を備えたユニットも内蔵しています。この統合ユニットは、ユーザーがさまざまな測定技術にアクセスできるようにし、さまざまなサンプルの光学特性に関する詳細な情報を提供します。J。A。 WOOLLAM M-2000UIは、優れた性能を備えた信頼性の高いユーザーフレンドリーなマシンです。使いやすく、迅速かつ正確なデータ処理が可能です。M-2000UIは、光散乱および薄膜成長、光学特性評価、半導体診断、多層光学コーティング、光電子デバイス、マイクロ波、モバイルテレコミュニケーション、光学ディスプレイ、化学センサ特性評価、光学材料研究など、さまざまな用途に適しています。J。A。 WOOLLAM M-2000UIのパフォーマンスを向上させるために、データと分析をリアルタイムで実行したり、結果をオフラインモードで処理したりできます。組み込みソフトウェアは、Webインターフェイスを介してリモートでアクセスすることもでき、ユーザーは任意の場所からデータにアクセスして管理することができます。さらに、結果は様々なソフトウェアパッケージと互換性のあるフォーマットで簡単にアップロードすることができます。M-2000UIは楕円測定技術の頂点であり、あらゆるタイプのサンプルに対して正確で正確な分析を提供することに頼ることができます。このデバイスは、多様な材料の光学特性を迅速に分析して記録することができるため、多くの産業にとって貴重なツールとなります。