中古 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9268961 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000UIは、材料の光学特性を測定するために設計されたコンピュータ化された楕円計です。薄膜材料の光学定数、厚さ、屈折率を高精度かつ高精度に測定することができます。M-2000UIには幅広い能力があり、材料研究や生産において貴重なツールとなっています。J。A。 WOOLLAM M-2000UIは0。2nmから3 µmまでの薄膜の厚さを測定することができます。これは、フィルム特性のより良い視覚表現を可能にするイメージングシステムの追加によって強化されています。測定は、偏光、非極性光、単色光など、さまざまな光源を使用してさまざまな材料で行われます。M-2000UIを操作するソフトウェアはユーザーフレンドリーに設計されており、測定結果を迅速かつ確実に生成するために使用できます。また、マルチコンポネント解析、楕円フィット、一貫した結果を得ることができる統合フィッティングカラムなど、さまざまな方法でフィルム特性を評価することができます。J。A。 WOOLLAM M-2000UIはまた0。01°Cの精密範囲内の温度を監視し、調整する高度の温度調整の特徴を含んでいます。この機能は、より効率的なプロセスを提供しながら、さまざまな材料で一貫した結果を保証するのに理想的です。また、M-2000UIは活発な振動制御システムを備えており、振動の影響を受けやすいサンプルの測定が可能です。この機能により、J。A。 WOOLLAM M-2000UIは移動中の材料の測定において素晴らしいパフォーマンスを提供します。M-2000UIは、材料の研究と生産にとって重要な資産です。幅広い機能により、薄膜材料の光学定数、厚さ、屈折率を高精度かつ高精度で測定できます。そのユーザーフレンドリーなソフトウェアと温度制御機能により、一貫した結果が得られます。アクティブな振動制御システムは、測定中の安定性を保証します。