中古 J.A. WOOLLAM M-2000DI #293803226 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000DIは、精密で正確な薄膜特性評価用に設計された最先端の楕円計です。最先端の技術とユーザーフレンドリーな機能を組み合わせた先進的な機器で、研究および業界の幅広いアプリケーションに信頼性と再現性の高い測定を提供します。楕円計の中心M-2000DIは、サンプル表面から反射した偏光の振幅と位相変化の両方を測定することができるデュアル回転補償器の設計があります。この特許技術により、厚さ、屈折率、表面粗さなどの薄膜特性を高感度・高分解能で包括的に解析することができます。J。A。 WOOLLAM M-2000DI楕円計の主な特徴の1つは、紫外線から近赤外線までの波長をカバーする広いスペクトル範囲です。これにより、半導体や光学フィルムから生体試料やポリマーまで、さまざまな材料やコーティングを特徴付けることができます。さらに、この装置は複数の入射角オプションを備えており、さまざまなサンプルの種類や実験要件に合わせてカスタマイズ可能な測定条件を提供します。M-2000DIエリプソメーターには、直感的なデータ可視化とモデリング機能を提供する強力なデータ分析ソフトウェアパッケージが装備されています。測定された楕円測定データを簡単に解析し、関連する薄膜パラメータを抽出し、理論モデルをシミュレートして実験結果と比較することができます。このソフトウェアには、より複雑な多層薄膜構造のための高度なフィッティングアルゴリズムも含まれており、基礎研究と産業プロセス開発の両方のための汎用性の高いツールとなっています。性能面では、J。A。 WOOLLAM M-2000DIエリプソメーターは、膜厚のサブナノメートル範囲での測定精度、屈折率のサブ0。01で、卓越した精度と再現性を誇っています。この高い精度は、ナノスケールの厚さと光学特性を持つ薄膜を研究するために不可欠であり、微細なバリエーションであってもデバイスの性能に大きな影響を与える可能性があります。M-2000DIエリプソメーターは使いやすさのために設計されており、ユーザーフレンドリーなインターフェイスとデータ収集と分析を合理化する自動測定ルーチンを備えています。また、液体セルホルダー、自動マッピングステージ、可変温度チャンバーなど、さまざまなアクセサリやオプションを備えており、さまざまな実験セットアップやサンプル構成に対応しています。全体として、J。A。 WOOLLAM M-2000DIエリプソメータは、光学、材料科学、半導体技術などの多様な分野の研究者や技術者に比類のない精度、汎用性、使いやすさを提供する、薄膜特性評価のための最先端のソリューションです。最先端の技術とユーザーフレンドリーな機能を備えたM-2000DI楕円計は、薄膜の光学特性を調査し、幅広い用途で科学的な理解を進めるための強力なツールです。