中古 J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000エリプソメーターは、偏光を用いて分析する試料の厚さの変化を測定する装置です。測定は、まず特定の周波数の光をサンプル材料表面に照射してから、結果として生じる反射光の回転を測定します。サンプルは、UHVチャンバーに囲まれたサンプルディスクの上に配置され、真空環境で正確に測定することができます。回転プラットフォームに取り付けられたサンプルディスクにより、異なる角度の発生と偏光を異なる測定に使用することができます。M-2000の光源は、ビーム長2。0cm、ビーム強度10 nanoWatts/cm2の147。5nm ArF*レーザーです。CCD検出器を搭載しており、サンプルの偏光を監視し、材料の双対性を評価します。また、レーザーラインとレーザー干渉計を備えており、サンプルに対するビームの偏光の変化量を測定するために使用されます。システムには、測定データを処理し、リアルタイムの結果を提供する内部プロセッサもあります。また、比較のために最大5000曲線を格納することもできます。さらに、このシステムは長期的なデータ収集とデータ分析戦略も可能であり、ユーザーは時間の経過とともにフィルムの進化を概観することができます。J。A。 Woellam J。A。 WOOLLAM M-2000は、サンプル材料の厚さの変化を測定するための有効なツールです。さらに、内部プロセッサはデータ分析と曲線を格納する機能を可能にし、研究や品質管理に役立つツールとなっています。さらに、バイレフリンジェンスと真空環境の測定能力により、光学分野などの特殊な用途に最適なツールとなっています。