中古 J.A. WOOLLAM M-2000 #9249787 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000は、幅広い材料で薄膜の厚さと光学パラメータを測定するために使用される多目的な光学測定ツールです。それは、偏光ビームでサンプルを照らし、結果として生じる反射を検出し、その結果を高度なソフトウェアで分析してサンプルの光学特性を決定することによって機能します。試料から反射される光の強度と波長の違いを異なる角度で測定することで、フィルムの厚さや被覆M-2000原子レベルまで正確に測定することができます。フィルム厚の測定に加えて、J。A。 WOOLLAM M-2000を使用して、サンプルの屈折率、光伝送、吸収、絶滅係数、吸収係数を測定することもできます。M-2000はマルチパラメータ光学ツールであり、複雑で時間のかかる後処理を必要とせずに同じサンプルから複数の特性を測定できることを意味します。サンプルホルダーサイズは幅広く、直径200mmから直径4。6mmまでのサンプルに対応できます。さらに、自動校正機能によりセットアップが容易になり、測定の再現性が保証されます。J。A。 WOOLLAM M-2000は、CCDカメラを搭載し、高解像度のスペクトル分解能を提供し、近赤外線および可視範囲の両方のサンプルの特性評価を可能にします。また、温度および外部振動制御も備えており、潜在的なエラーを最小限に抑え、信頼性の高い結果を保証します。M-2000はまた、コンピュータによって直接またはリモートで制御された場合、より高い柔軟性と拡張機能を提供します。全体として、J。A。 WOOLLAM M-2000は、薄膜および材料の光学特性評価と測定に効果的で信頼性の高いソリューションです。洗練された光学およびソフトウェア技術を使用して、サンプルの光学特性を迅速かつ簡単に正確に測定し、さまざまな業界に最適なツールです。