中古 J.A. WOOLLAM M-2000 #293825868 を販売中

J。A。 WOOLLAM M-2000は、様々な基板上の薄膜の厚さ、光学定数、屈折率を測定するための光学測定ツールである楕円計です。エリプソメーターは偏光を使用しており、接触プローブを使用せずに膜厚、偏光、光学定数、屈折率などの様々な特性を測定することができます。これは、85度までの高い入射角度測定範囲、190nmから1650nmまでの広い波長範囲、+/-0。01度の優れた角度安定性、および0。1nm以上の高精度を備えています。M-2000には、フラッシュランプ、LED、重水素、ハロゲンなど4種類の光源があります。それに4つの異なった偏光器、2つの線形偏光器および2つの円形偏光器があります。偏光子は、線形差動、円差動、多極性モードなどの異なるモードを切り替えることができます。偏光器は、着信光を異なる偏光状態に変換するように設計されており、これを測定することができます。J。A。 WOOLLAM M-2000は、各種測定に使用できる回転式サンプルステージも備えています。ステージはX-Yロボットステージと+/-15mmの垂直範囲のZロボットステージを備えています。また、サンプルチェンジャーは、手動で再ロードする必要なく、最大6つのサンプルを使用できます。また、M-2000はサンプルデータを素早く取得し、さらに分析のために保存できる自動データ収集システムを備えています。また、ユーザーがデータを分析し、所望の結果を得ることができる分析ツールの範囲が付属しています。J。A。 WOOLLAM M-2000は、薄膜特性評価、半導体ウェーハ解析、光学コーティング解析、光学部品研究開発、光フィルター設計など、さまざまな用途に適しています。世界中の多くの研究所で使用されている信頼性の高い効率的な機器です。