中古 J.A. WOOLLAM M-2000 #293585945 を販売中

J。A。 Woo llam J。A。 WOOLLAM M-2000は、材料サンプルの膜厚、屈折率、吸収率を測定するために設計された楕円計です。薄膜試料の上面からの反射による光の偏光状態の変化を評価することで、正確かつ堅牢な測定を実現します。楕円測定の原理に基づいて動作し、反射光の比率を異なる角度で測定します。この楕円計はJ。A。 Woo llamによって設計され、その正確さと信頼できる結果が認められています。M-2000はレーザーで照らされた、非常に反射、平面のサンプルステージとビームスプリッターを介して接続されている光検出段階で構成されています。低コヒーレンヘリウムネオン（He-Ne）レーザーを使用して、制御されたモノクロマチックおよび非協力光源を提供します。この光源は試料に向けられ、光が反射されて楕円体信号が生成されます。楕円計信号は偏光機構で検出され、さらにプロセッサと人間工学に基づいたグラフィカルユーザーインターフェイスを使用して解釈されます。J。A。 WOOLLAM M-2000は、単層フィルムや多層フィルムを含む幅広いフィルムをカバーするように設計されています。レーザー光線の発生角度は可変であり、リアルタイム分光法やプロファイルマッピングなどの幅広い研究が可能で、膜厚、屈折率、吸収率などの情報を得ることができます。さらに、M-2000にはコンピュータハードウェアとソフトウェアパッケージが装備されており、簡単なデータ分析とデータ照会が可能です。J。A。 Woo llam J。A。 WOOLLAM M-2000は、高度な設計と技術の進歩により、半導体および光学コーティング業界の研究および業界設定の両方に有効なツールと考えられており、ユーザーは材料サンプルの物理的特性について貴重な洞察を得ることができます。精度と信頼性が高く、操作が簡単です。