中古 J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 #9301004 を販売中

J。A。 WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 Ellipsometerは、薄膜や表面の光学特性を測定するために設計された高精度の分光楕円計です。この完全自動化された装置は、高リゾリューションの楕円測定と、最大200mmのサンプルのプログラマブルサンプルポジショナーを組み合わせています。膜厚、光学定数（屈折率、吸収係数）、および幅広い材料の表面粗さの正確で信頼性の高い測定を実現します。このUI-1500は、超紫外線（UV）から近赤外線（NIR）まで幅広い波長の高感度分光検出装置を備えています。このシステムは、正確で信頼性の高い結果を得るために、0°から85°の範囲の発生角度（AOI）を測定することができます。また、自動ウェーハアライメントユニットとサンプルポジショニングマシンを備えており、サンプルの積載が容易です。UI-1500の精密光学系は、優れた信号とノイズ比で優れた精度を提供します。また、高精度なデータ収集および処理ツールを備えており、正確でタイムリーなデータ分析が可能です。このアセットは、回転および非回転構成の両方で使用するために構成することができ、次のようなさまざまな用途に使用することができます。表面特性（粗さ、光定数）付着試験ナノ構造の光学パラメータ薄膜応力解析。このUI-1500には、多様なアプリケーションのニーズに確実に対応するためのさまざまなソフトウェアとハードウェアオプションが付属しています。自動化されたウェーハローディングとウェーハマッピングをサポートし、迅速かつ効率的なサンプル分析と、迅速な結果を得るためのリアルタイムのデータ収集とデータ分析を実現します。このUI-1500は、解像度と露光時間を設定するための使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスも備えています。UI-1500は、薄膜や表面の特性評価に最適な装置です。精密光学、自動化されたセットアップ機能、およびユーザーフレンドリーな設計により、この分光楕円計は、さまざまな材料の膜厚、光学定数、および表面粗さを測定する正確で信頼性の高い方法を探している研究開発ラボにとって理想的な選択肢です。