中古 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #9038920 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON UVISELは、薄膜コーティングの分析用に特別に設計された楕円計です。この装置は、膜の厚さ、フィルムとレイヤーの光学定数、およびフィルム層の屈折率、吸収率、反射率の変化を正確に測定することができます。HORIBA UVISEL Ellipsometerは、高度な偏光技術、光源波長カバレッジ、および自動データ取得を利用しています。レーザーまたは発光ダイオード（LED）からの単色光の入射ビームを使用します。光は薄膜試料を通過した後に偏光され、出力偏光を測定する偏光計に向けられます。得られた偏光データは、膜厚、試料の屈折率、発生角、吸収係数などのサンプルの光学特性を計算するために使用されます。JOBIN YVON UVISELエリプソメーターは、実験のセットアップ、波長の選択、データ取得のための直感的なインターフェースを備えた使いやすさのために設計されています。また、200nmから2000nmまでの複数の波長をサポートし、LEDとレーザー光源を利用できます。この装置は、反射測定と透過測定の両方のために設計されており、標準的なガラスおよびプラスチック基板上の薄膜コーティングの分析を可能にします。さらに、UVISELは非常に正確で、様々なサンプルで再現可能な結果が得られます。測定プロセス中、測定器はサンプルを監視し、結果に影響を与える可能性のあるエラーを補償します。これは、自動インデックスキャリブレーション、および外部サンプル温度監視およびサンプルドリフト補償によって有効になります。最後に、HORIBA/JOBIN YVON UVISELは、優れた性能と再現性を繰り返し提供する非常に信頼性の高いエリプソメーターです。半導体、太陽、建設、研究分野の薄膜解析において信頼される機器です。