中古 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #149667 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON UVISELは、紫外線から赤外線まで幅広いスペクトル範囲で薄膜などを測定するために開発された最先端のベクトル分光楕円計（VSE）です。この装置は、非破壊的な薄膜厚、光学定数、散乱およびフィルム均一測定用に設計されています。薄膜の光学特性を広範囲に測定することにより、界面層の特性とその組成を決定することができます。HORIBA UVISELは、回転偏光器とアナライザを使用して、デバイスのスペクトル範囲の波長の変化における光強度の変化を測定します。光源と試料の偏光を修正し、表面と界面層の反射前後の光学効果を測定します。これは、ベクトル分光楕円測定の利点であり、複雑なサンプル調製を使用せずに薄膜特性評価を可能にします。入射偏光の変調は、サンプルの完全なスペクトル楕円測定情報を測定できるように行われます。完全なスペクトルは、0。5 nmのスペクトル分解能と最大60年のダイナミックレンジを持つ可視、近紫外領域、および中赤外領域で測定することができます。デバイスの角度分解能は0。004°で、より正確に動的範囲を測定するために使用されます。JOBIN YVON UVISELの主なコンポーネントには、XYZステージ、高度な光学、検出器アレイ、電子機器の取得、およびコンピュータ制御が含まれます。XYZステージはサンプルの3次元翻訳制御を提供し、高度な光学系はレーザー干渉計を使用してスポットサイズの精度とスキャン速度を向上させます。このシステムには、スペクトル範囲上のすべての波長に対する放射の強度を測定するための検出器アレイが装備されています。データは高速統合システムで取得され、結果はコンピュータを介して制御されます。UVISELは、電子部品や金属のコーティングの単層厚さ測定から光学基板や光電子部品の膜厚測定まで、正確な薄膜特性評価に最適な装置です。また、誘電定数や吸収係数などの薄膜の光学特性、異方性材料特性にも使用されています。このシステムは、半導体、自動車、医療機器製造など、高度な薄膜特性評価が必須である業界で広く使用されています。これにより、HORIBA/JOBIN YVON UVISELは広範な研究アプリケーションのための汎用性の高いツールとなります。