中古 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293651503 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL IIは、非常に薄いサンプル層を測定するために設計された高精度、非破壊性楕円計です。モノクロと分光光度計の技術を組み合わせて薄膜の光学特性を測定する最先端のモジュール型光学検査装置です。HORIBA UVISEL IIは回転補償器と高精度の光学ヘッドで構成されており、幅広い基板や光学定数の測定が可能です。このモデルは、CCDカメラ、JOBIN YVON UVISEL II Acquisition System、およびYvoCourseソフトウェアを備えており、サンプル層のリアルタイム検査と主要な光学パラメータの計算が可能です。UVISEL IIは、小型・低コスト測定用の低消費電力モノクロメータと、高精度で信頼性の高いCCDカメラによるより長い波長測定用の強化された光学構成を組み合わせた楕円測定/分光法を使用しています。屈折率、絶滅係数、吸収スペクトルなどの材料の光定数を測定することができます。HORIBA/JOBIN YVON UVISEL IIは全自動サンプルステージと手動アライメントユニットを搭載し、効率的で汎用性の高いマシンです。HORIBA UVISEL IIで使用されている高精度オプティクスは、材料の薄層の正確な評価を可能にします。楕円測定光学ヘッドの高精度スポットサイズにより、曲面でも高精度な測定が可能です。高度なCCDカメラを搭載した分光光度計モジュールは、サンプル層の光学特性を詳細かつ正確に分析し、JOBIN YVON UVISEL IIに含まれるソフトウェアパッケージは、ツールを素早く設定および制御するための直感的なインターフェースを提供します。UVISEL IIは、薄膜層の特性評価や表面層の光学検査に有効で信頼性の高い装置です。これは、品質保証と産業アプリケーションのための費用対効果の高い自動化された資産です。HORIBA/JOBIN YVON UVISEL IIで提供される測定は、正確で再現性があり信頼性が高く、表面解析分野の専門家にとって貴重なツールです。