中古 HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293594976 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL IIエリプソメータは、基板の光学特性と表面特性を高精度に測定するために設計された高分解能のin-situ光学機器です。この装置は、偏光変調分光楕円法（PMSE）とIRS （Integrated Reflection Spectroscopy）技術を組み合わせて、入射角と波長の機能として材料表面に散乱した光の偏光の変化を測定します。インシデントライトから収集された情報は、膜厚、屈折率、光学定数、面粗さなどの表面特性データを生成するために使用されます。HORIBA/YVON HORIBA UVISEL IIは、急速なデータ収集のために、2つの光学可変フィルターと白色光源を使用しています。この光源とフィルターの組み合わせにより、分光器やその他のより先進的な方法では使用できない可変波長と入射角度の測定が可能になります。例えば、200〜1000 nmの波長の可変波長範囲により、高分解能の表面特性評価が可能です。1°-85°の発生範囲の可変角度は、オフノーマル角度で正確なモデリング角度を可能にします。この装置には、正確さを確保するためにコンピュータ制御の電動回転ステージが装備されています。JOBIN YVON/YVON JOBIN YVON UVISEL IIには、温度に敏感な材料やサンプルを測定する際のシステムの機能を拡張するための温度制御と真空チャンバーが含まれています。この機能により、熱不安定のためにアクセスできないフィルムを測定することができます。HORIBA/JOBIN YVON/YVON UVISEL IIは、多種多様なパラメータや材料を分析するために設計された多目的ソフトウェアを使用しています。このシステムは、電動ステージを制御し、データを迅速に分析することができます。さらに、ユーザーフレンドリーで、簡単なデータ取得と操作が可能です。ソフトウェアには、参照材料のライブラリが含まれており、測定された材料特性と期待値の違いを検出する手段として、ユーザー定義の許容限度を提供します。HORIBA/YVON HORIBA/JOBIN YVON UVISEL IIは、半導体、医療機器、太陽光発電、ガラス製造など、さまざまな産業で使用される理想的な機器です。システムの汎用性と高精度は、研究および生産アプリケーションの両方に適しています。インストゥルメントの広範な機能、小さなフットプリント、直感的なソフトウェアインターフェイスにより、精密な光学特性および表面特性評価に最適です。