中古 HORIBA / JOBIN YVON 23300014W #293644233 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON 23300014W Ellipsometerは薄膜試料の光学特性を測定するために使用される強力で精密な精密測定器です。HORIBA 23300014W Ellipsometerは、試料表面から反射した偏光状態や光の変化を楕円測定法で測定し、屈折率や反射率などの光学定数の解析を可能にします。エリプソメーターは2つの主要元素で構成されています。1つ目はインシデントメーターで、偏光ビームスプリッターで偏光してからサンプルにインシデントを発生させます。2番目の要素は、反射光の偏光の変化を測定する検出器メーターです。検出器はさらに、発振面の方向を検出するアナライザと、サンプルから来る反射光の強度の変化を測定するCCDカメラに分かれています。波光学の法則に従って、2つの線状偏光ビーム、インシデントと反射ビームは、サンプル表面に垂直な平面に配置されます。反射ビームと入射ビームの間の角度を楕円角と呼びます。偏光楕円測定技術は、2つのビームの相対挙動を測定するために使用されます。635nmの波長と3mmの全視野、0。8 arcsecの精度を備えています。システムにはソフトウェアインターフェイスも含まれており、リアルタイムで機器の設定を制御しながらデータをリアルタイムでキャプチャおよび分析することができます。JOBIN YVON 23300014W Ellipsometerは、薄膜試料分析、半導体ウェーハ特性評価、着色剤、表面接着、化学、材料科学、光学工学などの用途に最適な装置です。この装置は、実験室や産業環境において高い精度、再現性、信頼性を提供するように設計されています。