中古 GAERTNER L117 C #9011501 を販売中

GAERTNER L117 Cは、膜厚、屈折率、サンプルの光学異方性などの表面特性を非破壊的かつ正確に測定できる楕円計です。楕円計には、0°から85°までの可変的な発生角度（AOI）を備えており、さまざまな角度で測定することができます。L117 Cは、最も一般的にMVAE （Monochromatic Variable Angle Ellipsometry）技術として知られているブリュースター角度の変種を利用しており、サンプルから反射された光の偏光状態を正確に測定し、最大5ミクロンの深度プロファイリングを可能にしている。GAERTNER L117 Cは、プリセットされたAOIでサンプルに焦点を当ててインシデントする632。8ナノメートルの波長を持つヘリウムネオン（HeNe）レーザーを利用しています。次に、偏光は振幅と位相を含むさまざまな成分で反射され、反射光の関連する偏光状態を決定します。この偏光状態は、L117 Cの精密光学系とPCベースのソフトウェアを使用して測定および分析され、ナノメートル範囲の解像度にサンプル特性を解決します。GAERTNER L117 Cは、屈折率や光学異方性の変化を検出することができ、液体および固体界面特性の評価に役立ちます。L117 Cはまた非常に薄いフィルムの厚さを効果的に測定し、0。2nmの感受性の層にされた材料の表面のオリエンテーションの相違を定量化できます。GAERTNER L117 Cはサンプルホルダープラットフォームと統合されており、x軸とy軸のラボテーブルにサンプルを簡単に取り付けることができます。ホルダーは12mmの最高のサンプル厚さの200x100mmまでサンプルを支えることができます。サンプルホルダーにはクイックリリースメカニズムも装備されており、サンプルの高速ロードとアンロードが可能です。L117 Cは、様々なサンプル特性を正確に解析する非破壊、高感度の楕円計です。直感的なPCベースのソフトウェアと、幅広いAOI測定を備えた優れた円周光学系は、有機および無機薄膜、液体/固体界面、およびその他のナノ構造の評価に最適なツールです。