中古 GAERTNER L116 #75352 を販売中

製造業者
GAERTNER
モデル
L116
ID: 75352
Ellipsometer, manually operated.
GAERTNER L116は最先端の分光楕円計です。薄膜、表面種、多層コーティングの特性を測定するために設計されています。このシステムは、材料サンプルの光学特性を測定するために、精密光学技術とデュアル偏光ビームスプリッタ技術の両方を利用しています。これには、屈折率、絶滅係数、膜厚、面粗さ、光学定数などのパラメータが含まれます。L116は、科学研究、製品開発、品質管理を可能にするさまざまなコンポーネントを備えています。このシステムは、サンプルの光学特性を測定するために使用されるHeNeレーザーに基づいています。レーザーは、連続モードまたは離散モードのいずれかで複数の波長を生成することができ、より正確な測定を可能にします。このレーザーは、フォトダイオードと充電結合デバイス(CCD)カメラからなる検出器アセンブリに接続されており、どちらも両方の方向にサンプルが反射する光の強度を測定するために使用されます。検出器アセンブリには2つの偏光器も含まれており、サンプルによって反射される光の偏光と反射光の偏光の向きの両方を測定することができます。GAERTNER L116には、コンピュータベースの自動化および制御ソフトウェア、ならびにデータ取得およびサンプル位置決めのためのさまざまなアクセサリが含まれています。これらには、システムと互換性のある高精度の翻訳ステージとサンプルホルダーが含まれます。このソフトウェアはまた、異なる測定シーケンスのプログラミングを可能にし、4、6、および8インチサンプルの自動テストを可能にします。L116は、薄膜およびコーティングの信頼性の高い特性評価のための標準であると考えられています。これにより、サンプルの光学特性をナノメートル解像度まで正確に測定することができます。また、様々な表面を同時に解析することができ、材料の特性をより包括的に理解することができます。GAERTNER L116の精度と再現性により、製造プロセスの品質管理、電気特性評価、光学設計の検証に自信を持ち、さまざまな業界にとって貴重なツールとなります。
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