中古 GAERTNER L116 C #191770 を販売中

GAERTNER L116 C Ellipsometerは、楕円測定分析技術の最新技術であり、あらゆる基板上の膜厚、層屈折率、光学フィルムの光定数の迅速かつ非破壊的で正確な測定を可能にします。この非常に高度な楕円計は、最高の精度と再現性を提供し、光学的に研究できるすべての材料に適しています。L116 Cエリプソメータは、電子材料製造、光学デバイス製造、生体サンプル特性評価などの幅広い用途向けに設計されており、直感的でユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、効率と動作時間を最大限に高めています。幅広い測定モードを備えており、厚膜やスタックを正確に測定することができます。このシステムは、2つの高出力He-Neレーザーによって駆動され、大きなダイナミックレンジを可能にし、0。01〜100 μ mの厚さのフィルムを再現可能な精度で測定することができます。GAERTNER L116 C Ellipsometerは、サーボ制御の襟やリニアポラライザーなどの高精度測定のための高度な光学部品も備えており、最高レベルの精度を保証します。さらに、大型サンプルホルダーとステージにより、さまざまな基板サイズ、形状、形状に対応できます。さらに、自動キャリブレーション機能を備えており、セットアップが迅速かつ簡単になります。C Ellipsometer L116、得られたデータの包括的なレポートを提供する高度なデータ分析ソフトウェアも付属しています。これは、異なるフィルムタイプ、レイヤーパラメータ、プロセス収率を識別するのに役立ちます。さらに、ソフトウェアは、表面膜の組成と特性を分析するのに役立ちます、ユーザーは、サンプルコーティングやスピンコーティングのプロセスを調整することができます。このソフトウェアは、楕円測定データのグラフィカルな表示も提供し、ユーザーが結果をよりよく理解できるようにします。全体として、GAERTNER L116 C Ellipsometerは、光学フィルムの開発と製造、研究開発、および金属有機化学蒸着（MOCVD）産業に不可欠なツールです。高精度で再現性のある測定と使いやすいデータ解析ソフトウェアを組み合わせたこのツールは、光学的に材料を勉強したい人にとって強力で信頼性の高いツールです。