中古 GAERTNER L116 B #9383008 を販売中

GAERTNER L116 B Ellipsometerは、薄膜と表面を特徴付けるように設計された堅牢で信頼性の高い光学楕円計です。偏光を用いて試料層の厚さや光学特性を測定し、試料に損傷を与えることなく正確な解析を行う検査装置です。L116 Bは190〜1100 nmの波長範囲を使用しているため、屈折率、絶滅係数、層厚さなどの単層および多層膜の光学特性を測定することができます。GAERTNER L116 Bの測定機能は、ミケルソン干渉計と4つの別々の検出器を使用して可能になります。レーザービームによって生成されるインシデントライトは、サンプルに到着する前にビームスプリッターと補償プレートを通過します。サンプルを入力すると、光検出器が測定する前に光が部分的に反射して部分的に屈折し、データ解析システムに情報を送信します。測定精度を確保するために、機器の最大性能を確保するために、L116 Bにおけるすべてのビーム分割部品の使用率を最小限に抑えます。これにより、広いダイナミックレンジにわたって精密な光学特性評価が可能になり、波長精度が安定した最小限の波長範囲を提供します。GAERTNER L116 Bは、データ収集プロセスを高速化するための自動解析を可能にするデジタルイメージングシステムを利用しています。画像処理は、サンプル層の光学特性を決定するために、さまざまなアルゴリズムと組み合わせて使用されます。ソフトウェアとハードウェアの組み合わせにより、機器は高度な分析計算を実行し、研究、開発、品質管理アプリケーションに使用できる包括的なレポートを生成できます。L116 Bのユーザーフレンドリーなインターフェイスは、ユーザーエクスペリエンスを最適化するさまざまな機能も提供します。高度なデータ管理オプションにより、保存されたファイルに簡単にアクセスでき、ユーザーはデータの傾向を簡単に確認できます。インストゥルメントには、さまざまなリファレンス設定が含まれているため、デバイスのキャリブレーションが簡単になります。GAERTNER L116 Bは、薄膜および材料の光学楕円体特性において信頼性が高く、正確で手頃な価格のソリューションを提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと高度な機能を備えたこの機器は、さまざまな研究、開発、および製品化アプリケーションに強力で信頼性の高いプラットフォームを提供します。