中古 GAERTNER L116 B #9022059 を販売中
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ID: 9022059
Ellipsometer, up to 6"
Automatic measurement
Upgraded computer and Windows software.
GAERTNER L116 Bは、回転偏光解析器スキームに基づく楕円計です。リニアダンパーを備えた高精度の回転ステージを使用して、サンプル上の偏光ビームのインシデントを回転させ、2番目の検出器は回転角度、または偏光変化の度合いを測定します。このモデルの利点は、高精度で広いスペクトル範囲での測定を可能にすることであり、業界で最も人気のあるモデルの1つです。L116 Bは、サンプルが入射偏光ビームと相互作用した結果、光の偏光変化の度合いを測定するために回転解析装置の技術を利用しています。偏光ビームの回転角は発生角の関数として記録され「、Ψ値」と呼ばれる楕円計の値として定量化されます。この角度は、サンプルから検出された偏光角度と検出角度の差を測定することによって計算されます。角度の値に加えて、GAERTNER L116 BはΔ値と呼ばれるパラメータも測定します。この値は、入射ビームを構成する2つの偏光状態の電場のs-成分とp-成分の違いであり、サンプル表面の特性をより正確に決定するためにΨ値と組み合わせて使用されます。L116 Bによる測定は、厚さ10ナノメートルまでの極めて薄い膜を測定する能力があり、アルミニウムシート加工、コーティング、光学フィルター、半導体、有機薄膜、ポリマーなど多くの用途に適しています。この装置は、あらゆるサンプル材料の最高精度を保証するように設計された、さまざまな光学系、ソース、および検出器を備えています。GAERTNER L116 Bは、高速でコンパクトなユニットで、便利なユーザーインターフェイスを備えており、迅速かつ簡単な操作を可能にします。幅広い角度で正確なデータを提供します。これは、膜厚測定や表面特性評価などのアプリケーションにとって重要です。L116 Bは、薄膜測定に関連する半導体や光学素子などの製造に使用されてきました。GAERTNER L116 Bのユーザーは、回転偏光器とアナライザ方式を使用することで、高精度で高精度な光学パラメータを幅広く測定することができます。全体的に、L116 Bは、幅広い用途で正確で信頼性の高い測定に最適です。そのコンパクトなサイズと便利なユーザーインターフェイスは、正確な結果を迅速かつ確実に提供する使いやすい機器を提供します。
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