中古 GAERTNER L115S #90998 を販売中

GAERTNER L115Sは、複雑なナノ構造の特性を高精度で測定するために使用される高度な楕円計です。このデバイスは、サンプルの特性を導き出すために、回転偏光器とアナライザによる光の干渉測定を利用します。L115Sは、ナノ構造、薄膜、電解質、基材などの研究に関わる幅広い用途に使用できます。GAERTNER L115Sはモジュール構造に基づいており、さまざまなサンプルの膜厚、屈折率、光学定数、表面およびバルク材料特性などの光学特性を検出できます。L 115Sは、サンプル移動機構を内蔵し、0〜180度の偏光角を備えています。このマシンには2つの検出器があり、正確な2つの波長測定を可能にし、0。001度の精度と分解能、および10ppmの温度安定性を備えています。このマシンはシンプルなユーザーインターフェイスで設計されており、経験豊富なユーザーと初めてのユーザーの両方が簡単にデータにアクセスできるように直感的なインターフェイスを提供します。強力なソフトウェアシステムにより、デバイスを完全に制御でき、分析のために最大500の測定結果を保存することができます。機械は信頼できる測定および性能のための200および633 nmレーザーのダイオードが装備されています。統合された検出器は、0〜180°の完全な散乱角度範囲を使用することができ、ほとんどのタイプのサンプルで可能な限り最高の測定を保証します。このマシンは自己キャリブレーション機能を備えており、5〜500°のダイナミックレンジを提供し、ほとんどのサンプルで可能な限り最高の検出を可能にします。クローズドループ設計と高精度により、L115Sは優れた測定精度とデータの再現性を提供します。このデバイスは直感的でユーザーフレンドリーであり、半導体製造、太陽電池、光学などの幅広いアプリケーションで正確な結果を必要とするラボで使用できます。L 115Sは、その汎用性、精度、信頼性により、研究および材料科学アプリケーションに最適です。