中古 GAERTNER L115C #9196917 を販売中

GAERTNER L115Cは、薄膜の厚さ、屈折率、フィルム応力など、幅広い光学特性を測定するために設計された最先端の光学楕円計です。モノクロメータ光源、広範な検出器と偏光器、および2つの手動軸を備えた精密光学マウントが装備されています。直感的な操作性を備えたGAERTNER L115 Cは、薄膜やその他の半導体材料の特性評価に最適です。モノクロメータは、190nm〜1600nmの広いスペクトル範囲を提供し、スペクトル全体で広く変化する特性を持つサンプルの測定を可能にします。システムの高分解能は、70度以上の非常に低い角度と角度でも正確な測定を保証します。モノクロメータと連動した検出器と偏光器により、広範囲の角度と偏光を測定できます。この柔軟性は、測定時間を短縮し、すべての測定で精度を確保するのに役立ちます。精密光学マウントは2つの手動軸を備えており、異なるサンプル角度と発生角度に機器を構成することができます。必要に応じて幅広い角度でデータを取得するために、アングルを即座に調整することもできます。マウントの安定性が高いため、正確な測定が保証され、手動システムに含まれているドリフトが減少します。L 115 Cはまた、データ分析とレポート作成のためのさまざまなオプションを提供しています。試料の楕円パラメータを計算して表示し、厚さ、屈折率、フィルム応力に関する情報を提供することができます。また、フィッティングパラメータなどの高度な解析用ソフトウェアも含まれています。GAERTNER L 115 Cは、研究室および生産レベルの研究のために設計された高度な楕円計です。その直感的なユーザーフレンドリーな操作、幅広いデータ収集機能、および使いやすいデータ分析およびレポート機能により、最先端の薄膜特性評価機器の1つです。様々な光学特性を素早く、簡単に、正確に測定することができるL115 Cは、あらゆる材料研究所にとって必須のものです。