中古 GAERTNER L115C #9109132 を販売中

GAERTNER L115Cは、研究および産業用途向けに設計された高度な楕円計です。この装置は、波長範囲325-2000nm、フルブロードバンド動作、レーザー照準装置を備えた最適化されたSi-Based偏光/アナライザ楕円計を備えています。このシステムには、異なる基板をすばやく切り替えるか、非標準ジオメトリを分析するための、急速に調整可能な光学ヘッドが含まれています。また、高度な分析とレポート機能のための自動ウォークアップとオプションのPNAソフトウェアも備えています。GAERTNER L115 Cは、最高級の部品を使用して優れた性能を発揮します。このユニットは、サンプル照明用の精密二重回転子プラットフォームと、コアコンポーネントとして高級Siベースの偏光器/アナライザマシンを備えた標準的なトリプル偏光構成を備えています。これにより、20〜50nmサンプルの高い精度と再現性を備え、広いスペクトル範囲での迅速で正確な厚さと光学定数の測定が可能になります。このツールには、最高のパフォーマンスを発揮する柔軟性の機能が装備されています。簡単なアライメントとサンプル認識のためのレーザーポインタ、フルスペクトル動作のための高速スイッチング電動偏光器/アナライザヘッド、および異なる基板またはサンプルのための自動的に最も適した光学構成を備えています。また、データ分析、レポート作成、結果の再現に非常に直感的なGUIを備えたPCA Softwareパッケージも含まれています。L 115 Cは羨ましい正確さおよび性能のために造られ、また統合された歩行および光学自動焦点のルーチンのおかげでオペレータとの非常に低い相互作用と接続されます。この資産は、コンパクトなサイズとパフォーマンスで、最先端の研究および業界環境に適合するように設計されています。ガラス、金属、プラスチックなど、最も困難な条件下でも、さまざまな基板上のフィルム特性を迅速に測定できます。L115Cの高級な構造および革新的な技術は最も要求の厳しい環境の顕著な性能を保証し、それを研究および産業適用の両方のための理想的な選択にします。