中古 GAERTNER L115C-8 #9400516 を販売中

GAERTNER L115C-8エリプソメーターは、精密かつ非侵襲的な表面測定に使用される高度なツールです。試料表面から反射した後の単色光の偏光変化を測定する分光ツールです。この偏光の変化、つまり楕円性は、材料の厚さと屈折率の非常に小さな変化を測定する信頼できる方法です。L115C-8エリプソメーターは、大口径のエアベアリングサンプルステージを備えたユニークなデザインで、手動で介入することなくサンプルを360°回転させることができます。また、XYの自動翻訳ステージを備えており、位置変更なしで複数のサンプルを測定することができます。この翻訳ステージは、最大200mm平方サイズの大型サンプル基板をサポートするように設計されています。GAERTNER L115C-8エリプソメーターは光学スループットが高く、最大のコントラストとシャープネスでサンプルを測定できます。また、可視光から近赤外線まで幅広い波長を測定することができます。さらに、フォトンセンサアレイは、コントラストと信号対ノイズ比を向上させ、高精度なデータを提供するように設計されています。測定精度に関しL115C-8は、ナノメートルスケールの精度でサンプルの測定を容易にするように設計されています。また、取得したデータを分析および可視化するために使用できる、断面画像ソフトウェアなどの多数のソフトウェアパッケージが付属しています。GAERTNER L115C-8 Ellipsometerは、超薄膜の分析、ナノ構造、先端材料とその構造、太陽電池、半導体デバイスなど、さまざまな研究、開発、および商用アプリケーションで使用できます。また、光学計測やウェハレベルの信頼性試験などの高度なエンジニアリングアプリケーションでも使用できます。さらに、小型試料の厚さや屈折率をナノレベルの精度で測定することができるため、光学コーティングなどの光感受性材料の特性評価にL115C-8特に適しています。GAERTNER L115C-8エリプソメーターは、表面測定に使用するために設計された汎用性と精密なツールです。大規模なサンプルステージ、統合されたフォトンセンサアレイ、およびソフトウェアパッケージの範囲により、ナノメートルスケールのサンプルを高精度かつコントラストで正確に測定できます。研究、開発、製品テストにおけるその多様なアプリケーションは、さまざまな業界にとって有用なツールとなっています。