中古 GAERTNER L115B #9272576 を販売中

GAERTNER L115B Ellipsometerは、薄膜および光学材料の正確な特性評価用に設計された高度な光学測定システムです。楕円計は、厚さ、屈折率、吸収率、表面および界面粗さなどの特性を測定するために使用されます。L115Bは、未分極の光源、モノクロメータ、および2つの視野検出器を使用した分光楕円計です。光源と検出器によって作成された2つの垂直方向と水平方向の角度は、反射光の楕円度と位相シフトを測定し、サンプルの光学特性に関する豊富な情報を提供します。このデバイスは、さまざまなサンプルホルダー、自動サンプル高温ステージ、コンピューター制御のモーターフォーカス、自動アークランプなど、複数のオプションのアクセサリをサポートしています。GAERTNER L115Bは、25°から85°の角度から幅広い角度で光学特性を測定することができます。これにより、非常に薄いフィルムの正確な特性評価と、層状および多層フィルムを含むより複雑な材料の評価が可能になります。また、高解像度で広いダイナミックレンジを提供し、光学特性の正確な特性評価を可能にします。L115Bを実行するソフトウェアは、幅広い分析およびレポート機能を備えています。GAERTNER L115Bは、幅広いフィルムおよび光学材料情報を収集し、自動フィルム特性評価を行うための強力なツールです。デバイスの生産歩留まりの評価、問題のトラブルシューティング、材料の詳細な研究の実施に最適です。このデバイスは、高信頼性で使いやすいように設計されており、明確にラベル付けされたボタンとパラメータ、およびオンボードビデオディスプレイが備わっています。全体として、L115Bエリプソメータは、薄膜やその他の光学材料に関する詳細な情報を提供するように設計された正確な光学測定システムです。幅広い角度、高解像度、カスタマイズ可能なソフトウェアにより、薄膜特性評価や自動フィルム評価などの用途に最適です。