中古 GAERTNER L115 #9176770 を販売中

GAERTNER L115は、GAE Internationalによって開発された、幅広い用途向けの楕円計の世界有数のメーカーです。L115は、可視波長および近赤外波長における薄膜の光学特性の包括的な測定を提供します。この最先端の楕円計には、最大4つの独立したサンプルアセンブリを保持できる大型サンプルホルダーが装備されており、高精度な単波長、デュアル波長、多波長ラピッドスキャン楕円測定（RSE）測定など、さまざまな測定モードを提供します。また、一般的に膜厚や光定数の特性評価に使用される単一および複数の発生角度、複数の波長楕円測定データを取得することができます。このシステムの高度な光学設計により、吸収膜または非吸収膜などの線形膜と非線形膜の両方の正確な特性評価が可能になります。その統合されたソフトウェアプラットフォームは、膜厚測定、光定数推定、非線形膜の光学特性評価、スペクトル反射解析などのさまざまな分析ツールを提供します。GAERTNER L115は、オペレータの干渉を最小限に抑えて、正確で反復可能な楕円測定データを提供するように設計されています。フィルムの厚さ、回転対称構造、低い光学定数を持つ薄膜を測定するための繰り返し波長スキャンを備えています。また、物理的な厚さとピクセルレベルの薄膜サンプルの全光学厚さを測定するための統合された4D熱量測定装置も含まれています。測定計画やスキャンスケジューリングなどの統合されたオートメーションツールは、楕円測定データの取得に伴う時間を大幅に短縮し、機器の効率とスループットを大幅に向上させます。強化されたデータセキュリティ機能、暗号化されたチューニング、予約メモリにより、最も機密性の高いデータでも問題なく使用できます。L115は、線形および非線形の薄膜サンプルのサンプルタイプの範囲を簡単に扱うことができ、学術研究所、研究施設、工業および生産アプリケーションに最適です。その拡大されたサンプルサイズと複数のサンプルホルダーは、これまで以上に高速な測定を行いますが、最適化された光学設計は測定時間を最小限に抑え、より正確で信頼性の高い結果を得ることができます。GAERTNER L115は最先端の技術で構築されており、幅広い光学特性と表面特性を包括的に評価できます。その高度な機能、直感的なソフトウェアシステム、最先端の光学技術により、この楕円計は多くの研究および産業用途に不可欠なツールとなっています。