中古 GAERTNER L115 #9144443 を販売中

GAERTNER L115は、現代の材料研究用に特別に設計された研究グレードの光エリプソメータです。光が表面から反射する際の光の偏光状態の変化を測定し、薄膜材料の光学特性と表面特性の情報を決定するために使用されます。L115は、2つの偏光解析フィルタと、コンピュータ制御された「偏光分析装置」アセンブリからなる光学ヘッドを使用しています。これにより、GAERTNER L115は、サンプルと相互作用する光の偏光状態の変化を正確に測定することができます。これにより、楕円計は8〜85°の角度で材料の反射および透過特性を測定することができます。このシステムは、周囲の空気、真空、ガスなど、さまざまな環境でサンプルを測定することもできます。L115は、複数のサンプルを迅速に連続して採取できる自動システムを備えています。このシステムは、サンプルを0。8nmまたは8mmの厚さで測定することができます。さらに、測定中にサンプルを平らに保つように設計された背面薄型サンプルホルダーを備えています。GAERTNER L115は、DataFinder、 EXcalibrator、 XSpectraなど、さまざまなソフトウェアパッケージをデータ分析に利用しています。DataFinderは、L115からのリアルタイムおよび履歴データを処理および表示することができますが、EXcalibratorはサンプルの準備を支援し、反射率と透過率を測定する機能を提供します。XSpectraは、ユーザーが複雑な材料フィルムをモデル化し、光学診断を実行することを可能にする完全に機能するソフトウェアパッケージです。GAERTNER L115は、品質、精度、再現性のために構築された強力で汎用性の高い楕円計です。幅広い材料に精密で信頼性の高い測定を提供し、表面科学、光転移金属、半導体、光学、薄膜材料解析の分野の研究者に最適です。