中古 GAERTNER L115 A #9166572 を販売中

GAERTNER L115 Aは、薄膜および積層スタックの非破壊測定のために設計された、高度なレーザーベースの楕円計です。レーザーを用いて干渉パターンを生成し、試料の光学特性を測定します。L115 Aは、薄膜層の厚さ、光学定数、およびその他の特性を分析するために使用される、光学計測のための高度なツールです。HeNeレーザー光源を搭載し、波長は632。8nm、出力は約2。5mWです。レーザーはフォーカシングミラーとビームスプリッタ/偏光プリズムによってサンプルに集中します。インシデント光はサンプルから反射され、反射角度計によって逸脱します。データは、高感度のCCD検出器を使用して収集され、独自のソフトウェアを使用して分析されます。これにより、サンプルの光定数、厚さ、およびその他の光学特性を正確に測定できます。GAERTNER L115 Aには、可変インシデント光強度、4段階のインシデント角度の微調整、正確なポイントスキャンなど、いくつかの高度な機能もあります。さらに、このソフトウェアを使用すると、ユーザーは曲線やヒストグラムのプロットなど、さまざまな方法でデータを分析することができます。また、Tauc-Lorentz方程式などの標準測定プロトコルを使用して、サンプルの光学特性を正確に測定することもできます。L115 Aは、光学計測のための信頼性の高い正確なツールです。堅牢でユーザーフレンドリーなソフトウェアは、使いやすいインターフェイスと包括的なデータ分析機能を提供します。さらに、信頼性の高いレーザー駆動技術により、精度を損なうことなく、薄膜層の非破壊測定を可能にします。これにより、GAERTNER L115は薄膜分析に最適なソリューションとなります。