中古 ELLIPSOTECH Elli-SE-F #9249919 を販売中

ELLIPSOTECH Elli-SE-Fは、研究および産業環境における表面特性を正確かつ正確に測定するために設計された最先端の楕円計です。aEllipsometric Phase Analysis （EPA）法を使用して、薄膜の厚さ、組成、およびその他の重要な属性を決定します。この装置は、シングルアーム構成、レーザー光源、モノクロメータ、偏光器、角度ミラー、および入射光の位相シフトを測定する検出器で構成されています。Elli-SE-Fは、分光、成膜モニタリング、光特性の検証、その他のナノテクノロジー研究など、幅広い用途に理想的なソリューションを提供します。これらの機能には、その高精度と解像度、自動化された包括的なデータ分析、広いダイナミックレンジ、および多波長操作のための強力なソフトウェアパッケージが含まれます。この装置にはEllipsoMaxソフトウェアスイートが装備されており、異なる堆積ステップからのプロセスパラメータの分析が可能です。また、異なるサンプル間の結果の比較、およびグラフやテーブルの形でデータを収集して保存する機能を可能にします。このソフトウェアはユーザーフレンドリーであるように設計されており、科学的背景のないユーザーでも操作にすばやく慣れることができます。ELLIPSOTECH Elli-SE-Fは、その主な機能に加えて、結果の最大精度を確保するための自動校正とメンテナンスも提供しています。校正モードにより、機器は長期間にわたって精度を維持します。また、温度および湿度センサーを搭載しており、環境への影響から敏感な部品を保護します。さらに、サンプル傾きとサンプル回転装置が内蔵されており、より包括的な分析を提供します。Elli-SE-Fは研究および産業使用の適用のために適した無敵で、信頼できる装置です。薄膜およびナノスケール部品の校正とメンテナンスに費用対効果の高いソリューションを提供します。この機器は、データ分析のプロセスを合理化するのに役立つ最高の精度、広い波長範囲、および高度なソフトウェアを提供します。最先端のデバイスであり、高度なナノテクノロジーの研究開発に最適なソリューションです。