中古 ELLIPSOTECH Elli-SE-F #9117366 を販売中

ELLIPSOTECH Elli-SE-Fエリプソメータは、薄膜特性評価と品質管理に優れたツールです。これにより、膜厚、組成、光学定数の非破壊、迅速かつ正確な測定が可能になります。エリプソメーターは、平面面と円形面の両方を含むあらゆるタイプの表面からのs-偏光とp-偏光の両方の反射の瞬時の結果を提供します。自動化された光学機器を搭載し、直径25mmまでのサンプル領域を備えたすべてのフィルム層の高速で正確で信頼性の高い分析を提供します。Elli-SE-Fは、4軸エアベアリングのY-Z-WA-WP光学システムを使用して、入射光をサンプル表面に正確に並べ、サンプルからの反射光をCCDカメラを介してキャプチャすることができます。この単位は角度移動のための精密ステッピングモーターと結合され、正確な軽い変調および従って精密な測定を保障します。モータは最大0。0001°の角度移動が可能で、測定結果の高精度を実現します。エリプソメーターには、独立した円スキャンオプションを含む革新的な角度スキャン範囲選択マシンが組み込まれており、レイヤーごとに角度範囲設定を個別に調整し、最も最適な測定モデルを選択します。この範囲選択ツールは、個々のサンプルごとに最適なスキャンサイクルを可能にします。ELLIPSOTECH Elli-SE-Fは、最大25mmの測定面積で、他の楕円計と比較してより広範囲のサンプルを測定することができます。それとは別に、その調整可能なエアベアリング資産は、リップル測定ごとにサンプルの自動位置決めを提供します。また、サンプルホルダーは人間工学に基づいた構造で設計されており、最小限の労力で再現性の高い測定を提供します。エリプソメーターには、取得したデータをグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）画面または表形式で表示する統合ソフトウェアもあります。これにより、サンプルの特性評価が容易になり、すべてのパラメータと結果が明確に表示され、分析が容易になります。全体的に、Elli-SE-Fエリプソメータは、薄膜層を測定するための効率的なツールであり、高精度で迅速かつ信頼性の高い結果を提供します。自動化された光学モデルは、人間工学に基づいたサンプルホルダーと角度スキャン範囲の選択装置と組み合わされているため、あらゆるタイプのサンプルのより正確な測定を容易に行うことができます。