中古 DNS / DAINIPPON RE-800 #9293312 を販売中
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ID: 9293312
ヴィンテージ: 2011
Spectroscopic ellipsometer
Measurement type: Film thickness, optical constant
2011 vintage.
DNS/DAINIPPON RE-800は、薄膜や表面の層の厚さや光学特性を測定するために設計された楕円計です。薄膜測定の分野に革命をもたらした画期的なツールです。DNS RE-800は、楕円測定の概念に基づいています、物体やサンプルを介して反射または送信されたときの光の偏光方向の変化の測定。DAINIPPON RE 800は、表面に異なる角度でインシデントしたときの光ビームの反射率や透過率の変化を測定する自動電子ゴニオメーターを内蔵しています。この情報をもとに、薄膜や基板の層の厚さ、屈折率、光定数などの光学パラメータを測定することができるRE-800です。RE 800は研究室、品質管理部門、化学工業および工学部門の使用のために設計されています。0。01nmの精度と精度で、厚さ1nm〜1000nmの膜を測定することができます。RE-800は、シングルフィルム、バイレイヤー、マルチレイヤー、グレードフィルムなどのさまざまなサンプルタイプにも対応しています。DNS/DAINIPPON RE 800は、研究室に理想的な一連のユニークな機能を備えた非常に洗練された楽器です。DNS RE 800には特許取得済みの単反射エリプソメータ法があり、屈折率または光定数パラメータを1つだけ測定することができ、時間効率が高く費用対効果の高いオプションとなっています。また、独自の表面面積補正アルゴリズムを備えており、幅広いサンプルサイズのフィルム特性を正確かつ正確に測定できます。DNS/DAINIPPON RE-800はセットアップと操作が簡単で、薄膜の測定経験の浅い研究者に最適です。インストゥルメントには、セットアッププロセスを簡素化し、必要なすべての情報を提供し、データ分析を容易にする包括的なタッチスクリーンインターフェイスが付属しています。さらに、統合されたオンライン知識ベースは、トラブルシューティングとキャリブレーションのサポートを提供し、ユーザーが自信を持って実験を実行できるようにします。結論として、DNS RE-800は、薄膜や表面を正確に測定するために設計された信頼性と費用対効果の高い楕円計です。その洗練された設計およびユーザーフレンドリーなインターフェイスはそれを研究開発の実験室、化学および工学部門のための理想的な選択にします。
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