中古 TEL / TOKYO ELECTRON TEB407 #293660519 を販売中

TEL/TOKYO ELECTRON TEB407は、半導体デバイスの測定・特性評価を容易にする電子試験装置です。TEL TEB407試験装置は、集積回路、アナログ部品、その他の半導体の試験および特性評価に幅広い能力を提供します。TOKYO ELECTRON TEB407は、DC測定とAC測定の両方が可能な、0.100mA 40Vまでの低電流・高電圧試験機能を提供します。また、最大20kHzの高いサンプリングレートにより、電流と電圧の両方の測定に精密な分解能を提供します。さらに、TEB407は最大150kHzの高周波応答を誇り、解析用の高速トランジスタ特性や安定したソース測定が可能です。TEL/TOKYO ELECTRON TEB407は、CPU、ロジック、メモリテスターなどのさまざまなテストモジュールと互換性があり、複数の入出力機能を備えたより複雑なシステムをテストすることができます。EPSON製のグラフィカルディスプレイモジュールを内蔵しており、ユーザーは測定のリアルタイム表示を観察することができます。このシステムは、FLP Calculatorなどのいくつかのソフトウェアオプションでサポートされており、半導体パラメータや幅広い評価機能を備えたアナライザを正確に計算することができます。TEL TEB407は、半導体デバイスメーカーの要件を満たすさまざまなテストおよび特性評価機能を提供する信頼性の高いコンパクトなテストユニットです。それは実験室、生産ラインおよび内部機械試験の適用で部品の測定に高性能そして信頼性を提供します使用することができます。この機械の柔軟性により、ユーザーはカスタマイズされたテストプログラムを開発し、最小限の労力で正確で繰り返し可能なテスト分析を作成できます。これにより、東京電子TEB407は、半導体デバイスの特性評価・解析を行う技術者や技術者にとって、便利で費用対効果の高い選択肢となります。