中古 TEKTRONIX TLA 7Q4 #9286234 を販売中

TEKTRONIX TLA 7Q4は、デジタルプロトコルコンプライアンステストをより高いデータレートで提供するために設計された電子試験装置です。その機能は、低コストで高速デジタルインターフェイスの組み込み設計、光学および基板電気接続の性能を検証するのに役立ちます。TLA 7Q4は、フルメモリの深さと持続性を備えた1GHz 8bitデータキャプチャレートと64M Record Lengthを提供し、高いデータレートの柔軟なテストと分析を提供します。サポートされているトリガーと幅広い高度な機能により、プロトコルレベルのエラーを特定し、データ遷移中に小さな信号変化を監視およびキャプチャし、データに依存するジッタ測定を維持できます。TEKTRONIX TLA 7Q4はユーザーフレンドリーで使いやすく、組み込み設計から光学および基板電気テストに至るまでのテストの課題を模範的な性能で直感的なWindowsスタイルのメニューで満たします。ユーザーフレンドリーなWindowsスタイルのメニュー、ハードウェアベースおよびソフトウェアベースのトリガー、機器全体のクロックドメインのオートスパンニング、リアルタイムマスキング、データと注釈マーカーのシステム全体のオートスパンキングなど、多くの機能を備えています。TLA 7Q4には、WaveView™ Measurement Composerも搭載されています。これは、繰り返し可能な実行シーケンスを使用して階層的な複雑な測定を作成できる革新的なツールセットです。データ収集は、信号整合性の色分けされた電気的および光学的テストと相まって、より大きなデータキャプチャ深度のために16ビットの解像度で実行されます。この機器には、ActiveXコントロールを搭載したWindowsベースのオペレーティングユニットから自動テストプログラムの起動を作成する機能もあります。TEKTRONIX TLA 7Q4は、IEEE-414やIEC 61076-3-104などのコンプライアンス基準に基づいて信号整合性測定を実行することもできます。この機器は、光トランスミッタのシンボルレートが6Gbpsを超えるポートごとのTX損失、ポートごとのOMA、およびISIなどの追加のベクトル情報を提供します。結論として、TLA 7Q4は、ユーザーがリアルタイムでデジタル設計を検証およびデバッグすることを可能にする超高効率デジタルプロトコンプライアンステスト機器です。IEEE-414やIEC 61076-3-104などの規格への準拠を保証し、より高いデータレートを実現します。柔軟なテストおよび分析機能により、プロトコルレベルのエラーを特定し、小さな信号の変更を監視できます。また、WaveView Measurement Composerなどの高度な機能も備えており、繰り返し可能な実行シーケンスとWindowsベースのオペレーティングマシンからの自動テストプログラムの起動による階層的な複雑な測定を作成できます。