中古 TEKTRONIX TDS 754A #9179391 を販売中

TEKTRONIX TDS 754Aは、電子設計のトラブルシューティング、デバッグ、検証に使用される高度で高機能な電子試験装置です。最大2。5GHzのリアルタイムサンプリングレートを備えた高性能オシロスコープで、メモリは最大40Mのサンプル深さになります。また、4つの異なるビューを持つ大型ディスプレイと、混雑することなく複数の波形を表示するための1024 x 768の優れた解像度を誇っています。TDS 754Aの主な特徴は、4チャネル測定機能、広範なトリガー、ディープキャプチャメモリ、立上りおよび立下り時間測定、および様々な数学および高度な分析ツールです。ディープキャプチャメモリと効率的なトリガーにより、長い複雑な波形を簡単にキャプチャできます。さらに、トレンド解析機能により信号の統合と差別化が可能になり、波形内部の小さな信号変動を検証することができます。また、FFT、 Limit/Maskテスト、高度な測定数学、XYモード、スペクトルおよび転送関数、デジタル永続性などの広範な数学および分析ツールも提供しています。これらのツールを使用すると、最も困難な電子設計で隠された信号や問題を簡単に見つけることができます。TEKTRONIX TDS 754Aは、I2C、 SPI、 USB、イーサネット、HDMIなど、さまざまな通信インターフェースのオプションも提供しており、他の幅広い機器に接続することができます。また、LabView/LabWindowsとのTDS 754A Remote Applicationインタフェースをイーサネットポート経由で使用することで、リモートコントロールデバイスとして使用することもできます。最後に、インストゥルメントは自動テストシーケンス、スクリプト、直感的なGUIを提供します。これにより、電子設計のデバッグ時に、テストを素早く簡単にセットアップし、複雑な手順を自動化できます。また、ユーザーはニーズに応じてワークフローをカスタマイズすることができます。結論として、TEKTRONIX TDS 754Aは強力で高度なオシロスコープであり、複雑な電子設計をキャプチャ、分析、およびトラブルシューティングするために必要なツールをエンジニアに提供します。ディープキャプチャメモリで長い複雑な波形をキャプチャし、広範な数学および分析ツールで波形を分析し、幅広い通信インターフェイスオプションを提供できます。また、ユーザーの要件に応じてワークフローをカスタマイズするためのスクリプト化および自動テストシーケンスも提供しています。