中古 TEKTRONIX TDS 3054B #9187329 を販売中

TEKTRONIX TDS 3054Bは、デジタルおよびアナログ回路のテスト、トラブルシューティング、デバッグを行うためにTEKTRONIXが製造した電子試験装置です。エンジニア、研究者、プログラマーが迅速に問題を特定し、迅速に解決できるように設計されています。多機能テスト装置として、TDS 3054Bはサンプリング、シグナルキャプチャ、トリガー、波形解析を含むさまざまな機能を提供します。TEKTRONIX TDS 3054Bの帯域幅は最大500MHzで、高速信号をキャプチャするための4GS/sの同時サンプリングレートを備えています。独自のディープメモリ機能により、最大2Mのメモリを保持でき、複雑な波形を正確かつ詳細に表示できます。これにより、シグナル文字へのより大きな洞察が可能になり、1つの取得から複数のタイムセグメントを正確に比較するためのセグメントメモリ読み出しが含まれます。この試験装置には、限られた波形、デジタルコンビネーション、高度なタイマーなどの高度な機能が含まれています。また、強力な信号検索、振幅、周波数、立ち上がり/落下時間などの自動測定と分析機能を備えています。これにより、エンジニアは最悪のシナリオを簡単に見つけたり、疑わしい回路の問題を迅速に診断したりできます。デジタルテストの面では、TDS 3054Bには、8ロジックレベルの状態を持つ64デジタルチャネル用の統合ロジックアナライザと、JTAG、 I2C、オートメーションプロトコルに最適な高速RateMonitorセクションがあります。これはTLAビューアと組み合わされており、エンジニアはデータ自体を解釈することなく複雑な信号を調べることができます。TLAビューアには、バス拡張ビュー、プロセスフロー図、高度な検索およびフィルタリングなどの複雑な表示が含まれています。全体として、TEKTRONIX TDS 3054Bは、デジタル回路とアナログ回路のトラブルシューティングとデバッグを目的とした多機能電子試験器です。トリガーと信号キャプチャ機能の範囲で、複雑な波形の正確で詳細なビューをユーザーに提供します。その高速メモリは、エンジニアが1回の取得から複数のタイムセグメントを簡単に識別できることを意味します。また、高度なデジタルテスト機能により、最も複雑な問題でも簡単に検出できます。