中古 TEKNOLOGUE LX 4652C #9145005 を販売中

TEKNOLOGUE LX 4652Cは、複雑なRFおよびマイクロ波コンポーネントおよびシステムの測定および品質監視用に設計されたTEKNOLOGUEの高度な電子試験装置です。正確で信頼性の高いスペクトル測定が可能で、広い周波数範囲で高性能を提供します。LX 4652Cは、基本的なスペクトル特性評価からパルスおよび定常信号の複雑な測定まで、多機能測定機能を提供する多機能機器です。TEKNOLOGUE LX 4652Cは、正確な周波数測定のための高感度、低ノイズアンプを備えています。また、測定帯域幅で最大70dBの広いダイナミックレンジを提供し、最大90dBの非線形歪みを提供します。これにより、ユーザーは信号品質の最も微妙な変化を検出または監視することができます。さらに、高速サンプリングは、正確で信頼性の高い周波数測定のための広帯域ダイレクトデジタルシンセサイザー（DDS）によって提供されます。LX 4652Cは強力なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）も備えています。このGUIは、さまざまな方法でコンポーネントをすばやく識別、分析、監視するのに役立つカスタマイズ可能な表示設定とビューの配列を提供します。GUIを使用すると、測定を簡単かつ迅速に設定でき、貴重な時間を節約できます。TEKNOLOGUE LX 4652Cは、幅広い信号解析機能を提供します。これには、信号対ノイズ比、位相ノイズ、三次相互変調歪み、リターンロス、グループ遅延スプレッド、時間領域解析、高調波歪み、エンベロープ応答などのパラメータが含まれます。この機器はまた、信号の完全な特性評価のためのRFベクトルネットワーク解析をサポートしています。全体的に、LX 4652Cは、ハイエンドのアプリケーションのための優れた電子試験装置です。TEKNOLOGUE LXの広い周波数範囲、高いダイナミックレンジ、汎用性の高い測定機能、および強力なGUIにより、RFおよびマイクロ波コンポーネントおよびシステムを正確に測定および監視するための最適な選択肢を4652Cします。