中古 SEMICON DREAM2000-IC #9393185 を販売中

SEMICON DREAM2000-ICは、集積回路（IC）の試験および測定用に設計された高度で高度な試験および測定装置です。高度な高解像度データ収集システム、統合テストコントローラ、高出力高速パルス発生器、統合電源、高度なパルス発生器インターフェースを備えた統合テストおよび測定プラットフォームを備えた完全な試験装置です。高解像度のデータ収集ユニットは、毎秒最大4,000万点のデータを取得できるため、さまざまな周波数で信号を非常に正確に測定できます。さらに、ノイズ除去、信号対ノイズ比の計算、信号レベル指標など、さまざまな自動化機能がデータ収集機に統合されています。このタイプの高解像度は、精密アナログ試験、高周波デジタルテスト、表面実装装置（SMD）試験、電力消費試験、複雑な同期を伴うチップ設計など、さまざまな試験プロトコルに最適です。統合されたテストコントローラは、さまざまな高速テストプロトコルで使用できるように設計されています。これは、統合されたタイミングジェネレータ、トリガーコントローラ、自動ポートプロトコルアナライザ、イベントプロセッサなど、多くの強力な機能を提供します。また、テストコントローラは、テストプロセス全体を管理するための効率的なリアルタイム制御フレームワークを提供します。高電力高速パルス発生器は、高電圧と低電圧の両方の回路を駆動するために、高速パルスを迅速に提供するように設計されています。高電流または高電圧回路を駆動するために最大5Vの短いパルスを生成する機能があり、高周波試験には最大400V/usのスルーレートを提供します。統合された電源モジュールは、テスト対象のハードウェアとチップの両方に電力を供給することができます。手動と自動の両方の電圧制御を提供し、さまざまなツール構成のホストに対応するように構成することができます。最後に、パルスジェネレータインターフェイスは、さまざまなタイプのパルスジェネレータのホストをDREAM2000-ICに簡単かつ迅速に接続するように設計されており、さまざまなタイプのテストプロトコルで使用することができます。全体として、SEMICON DREAM2000-ICは、集積回路のテストと測定に強力で汎用性の高い資産です。高度なデータ収集モデルと強力なコンポーネントを備えたDREAM2000-ICは、製造、産業、研究産業におけるICの正確で信頼性の高いテストを実行するための完璧なツールです。