中古 SCP SCM-200 #9118454 を販売中

SCP SCM-200は、高解像度のニアフィールドスキャンだけでなく、コンパクトなポータブルアプリケーションのための角度スキャン機能を提供するように設計された電子試験装置です。薄膜半導体、磁性材料、機械部品の高分解能特性評価に使用されます。SCM-200は、機器の光学設計に適合した高度なスキャン干渉計（ASI）とユーザーフレンドリーなソフトウェアで構成されています。ASIは、特許取得済みの干渉格子を使用して、表面特性を高密度測定します。この技術により、薄膜パラメータ（厚さ、均一性、均一膜の接着性など）をサブナノメートル分解能で正確に測定することができます。アンギュラスキャン機能により、角度依存の光学特性を高精度で評価することができます。この汎用性の高い機器は軽量で、振動センシングや励起機能などの他の機能を備えており、動作中の振動による変形解析を可能にします。また、高速スキャン操作用に設計されています。スキャン速度は、テスト中のシステムの速度に合わせて簡単に変更できます。SCP SCM-200は、長波赤外線、短波赤外線、中波赤外線など、さまざまな環境で動作します。この装置の設計により、近距離と遠距離の両方の特性を同時に測定することができ、さまざまな産業用および学術用アプリケーションで迅速なオンサイト測定を保証します。この装置には、サンプル表面の詳細を視覚化するための統合された光学顕微鏡も含まれています。SCM-200には、デジタルシグナルプロセッサ、費用対効果の高いソリューションのコントローラなど、測定に必要なすべてのアクセサリが装備されています。さらに、この機器はさまざまなホストコンピュータと互換性があり、遠隔操作に最適です。さらに、このデバイスは詳細なドキュメントとユーザーフレンドリーなソフトウェアによってサポートされており、現場で訓練を受けていない作業者を簡単にすることができます。結論として、SCP SCM-200は高度で汎用性の高い機能を備えたよく設計された電子試験装置です。ユーザーフレンドリーで正確で軽量なので、さまざまなアプリケーションに最適です。機器の汎用性と高解像度の近距離スキャン機能により、さまざまな産業および研究アプリケーションに対応する強力なツールとなります。