中古 ROHDE & SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20 #9002367 を販売中

ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20は、RFおよびマイクロ波部品の高精度かつ正確な試験用に設計された2ポートベクトルネットワークアナライザです。これは、高度なトラブルシューティングと様々なRFおよびマイクロ波システムの特性評価のためのハイエンドで最先端の試験装置です。最大40GHzのマイクロ波周波数で、アクティブおよびパッシブ部品の高速かつ正確な特性評価を提供します。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20は、さまざまな機能と測定機能を備えており、ユーザーは信頼性が高く正確な測定を行うことができます。これは、簡単な操作を提供し、包括的なパラメーター機能を提供する直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。測定シナリオを定義し、時間領域反射計（TDR）とインピーダンス解析を測定し、高調波バランス解析を行うことができます。このデバイスは、挿入損失、リターンロス、位相測定、グループ遅延、変調帯域幅など、さまざまなパラメータを測定できます。また、周波数とタイムドメインの表示タイプも提供しています。frequency-domainディスプレイタイプは、frequency-domainディテール全体を包括的に表示し、time-domainディスプレイタイプは、frequency-dependentパラメータをより詳細に表示します。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20は、最大130dBの広いダイナミックレンジを備えており、高反射環境でも信頼性と精度の高い測定が可能です。また、相互変調歪み測定用の2つの内蔵周波数拡張トーンも含まれています。その他の測定機能には、マルチポートテスト、対称テスト、インピーダンス解析などがあります。このデバイスは、PCまたはラップトップコンピュータによって給電され、イーサネットインターフェイスまたはUSB接続を介して制御されます。ROHDE&SCHWARZ試験および測定ソフトウェアと完全に互換性があり、全体的な測定システムへの高度な制御と統合を可能にします。ROHDE&SCHWARZ SFL-T 2084.4005K20は、さまざまなRFおよびマイクロ波システムの高度なトラブルシューティングと特性評価のために設計された、信頼性の高い精密な試験装置です。包括的なパラメーター機能を提供し、さまざまなパラメーターの信頼性と正確な測定を可能にします。PCまたはラップトップコンピュータを搭載しており、ROHDE&SCHWARZ試験および測定ソフトウェアと完全に互換性があり、全体的な測定システムへの高度な制御と統合を可能にします。この洗練されたベクトルネットワークアナライザは、RFおよびマイクロ波コンポーネントの信頼性と正確なテストを提供します。