中古 POLYTEC OFV 1100 #9031122 を販売中

POLYTEC OFV 1100は、UV-VIS-NIRおよび遠赤外線スペクトルの光学特性を測定するために設計された多目的で使いやすい電子試験装置です。この高度な試験システムは、時間分解スペクトル測定、定常分光法、分光計モジュールをオプションで使用した偏光測定が可能です。OFV 1100は材料科学、物理学、半導体技術で主におよび太陽電池および光学適用で特に適した使用されます。それは非常に安定した格子モノクロメーターおよびダイヤフラムが付いているモノクロメーターを含んでいます；クォーツウィンドウと光源を備えたサンプルコンパートメントもあります。POLYTEC OFV 1100は、複数の測定を制御し、データを保存し、結果を表示することができる内部PCを搭載しています。OFV 1100の光源は安定した明るい光源を提供し、175〜4000 nmの波長を発し、近紫外線から近赤外線および遠赤外線までのスペクトル範囲をカバーします。対称グレーティングモノクロメータの設計は、入口スリット、回転グレーティング、高解像度イメージングチャンバー、出口スリットで構成されています。これにより、光源から放出される光の波長を高精度に選択して制御することができます。検出器が含まれており、異なるセンサー位置に配置することができ、光線やその他の光学パラメータの強度を記録するために使用されます。高品質の偏光システムをサンプルコンパートメントに搭載し、偏光測定に使用できます。偏光システムは、偏光ビームスプリッタキューブを使用して、サンプルによって放出される光の強度を制御します。その後、偏光は線形CCDアレイによって検出されます。その結果、サンプルのスペクトル応答を正確に解析することができます。このインストゥルメントには包括的なソフトウェアが付属しており、自動セットアップ、データ取得、データ分析および測定レポートの作成、およびカスタムレポートフォーマットが可能です。ソフトウェアは、簡単な操作と高速測定のために特別に設計されています。さらに、直感的なグラフィカルインターフェイスは、データを視覚化するのに役立ちます。POLYTEC OFV 1100は、スペクトルおよび偏光測定用の幅広い材料および部品の光学特性を測定するための理想的な選択肢です。高解像度スペクトル測定、高精度の光学・偏光測定、自動化されたデータ収集・解析などの強力な機能を備え、あらゆる実験室に最適です。