中古 MKS / ASTEX FI20111 #293660010 を販売中

MKS/ASTEX FI20111は、動的環境条件下で半導体デバイスの高速かつ効果的な試験を行うように設計された高性能、周波数干渉（FI）試験装置です。この機器は、電子部品やシステムの性能、信頼性、安全性に影響を及ぼす可能性のある幅広い周波数にわたる電気干渉信号を検出、測定、認定することができます。DCから225MHzまでの周波数範囲を持ち、精度は0。1％です。サンプルレートは最大500 MS/秒で、アンプ利得は1〜100dBです。最大1mVのディスプレイ解像度を備えています。この機器には、2つの2軸および3軸の電界強度計プローブと、特殊プローブを接続するためのデジタルアイソレータアダプタが装備されています。この機器の周波数干渉（FI）機能により、通信やナビゲーション、自動車、産業および医療アプリケーションなどのさまざまなアプリケーションで、感受性と免疫レベルを検証するのに理想的です。MKS FI20111は、単純な周波数スイープから、より高度な解析とフィルタリングまでのテスト項目を含む9段階のテストルーチンを使用しています。この機器は、内蔵のスペクトラムアナライザおよびネットワークアナライザ機能を使用して、ノイズオースの特性評価、免疫レベル、および信号パワーレベルに関する貴重な情報を提供することもできます。器械または装置のテストのために、ASTEX FI20111はRF要素のテストをより速くすることができるユーザーフレンドリーなGUIシステムを備えています。このGUIインターフェイスは、イーサネットまたはUSBポートを介したリモート制御にも対応しています。このインストゥルメントは、同じ環境の他のFIインストゥルメントと並列に接続することができ、デバッグ機能の強化とフラクショナルまたはハイスループット周波数干渉試験を行うことができます。また、非線形応答やユニット非対称性を迅速かつ正確に識別できる高度な診断機能も備えています。さらに、生成される試験結果ごとに周波数と電圧の振幅を詳細に分析する電力推定機能を内蔵しています。FI20111は、半導体デバイスおよびシステムの研究、開発、製造における幅広い測定に理想的な、費用対効果の高い高性能周波干渉および免疫試験装置です。包括的な診断機能と分析機能を備えており、より高速な結果とより大きな精度のテストを可能にし、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスにより、マシンのパフォーマンスを包括的に把握できます。