中古 KEITHLEY 4200-SCS #183780 を販売中

KEITHLEY 4200-SCSは、半導体デバイスと構造をテストするために設計された高性能の半導体キャラクタライゼーション装置です。デバイス特性の特性評価、I-V測定、応力解析、研究開発、生産試験、信頼性解析アプリケーションにおけるコンポーネントの性能評価を行う必要がある電気技術者や材料科学者に最適なツールです。KEITHLEY 4200 SCSは、4つの独立したSMUチャネルを提供し、浮動小数点および多重化されたソースおよび精密電圧および電流測定を備えた4つのクアドラントすべてで同時測定を可能にします。また、これまでにない低ノイズ性能と、SMUチャネルごとに40ナノ秒の高速セトリング時間を備えており、110 kHzまでの非常に高速な特性評価とサンプリングレートを可能にします。また、-55°C〜300°Cの独立した温度制御範囲を提供し、ユーザー設定による測定エラーから保護するための堅牢な保護機能を提供します。統合されたグラフィカルユーザーインターフェイスは、電流電圧（I-V）および容量電圧（C-V）測定を迅速に実行するために、さまざまなテストパラメータ、ハードウェア機能、およびさまざまなソフトウェアツールを提供します。これにより、バイポーラトランジスタ、電界効果トランジスタ、ダイオード、ジョセフソン接合部など、幅広い材料における半導体特性の解析に有効です。4200-SCSは、スイープキャパシタンス電圧、リニアモジュレーション、モビリティ寿命測定などの複数の分析ツールを統合しています。また、プログラム可能なスイープ設定を備えた完全に自動化されたリニアスイープと、モバイルイオン不純物やその他のサンプル特性を測定するための無数の機能も提供します。さらに、静的および動的な測定にも使用できるため、ユーザーは素早く正確に過渡的な測定をキャプチャできます。全体として、4200 SCSは信頼性が高く、完全に機能する半導体の特性評価機であり、正確で再現性のある半導体デバイスと部品性能テストを提供します。KEITHLEY 4200-SCSは、統合されたグラフィカルユーザーインターフェイス、さまざまなテストパラメータ、広範なソフトウェアツールを備え、今日の電気エンジニアや材料科学者に最適なプラットフォームを提供します。