中古 KEITHLEY 4200-SCS/F #293645291 を販売中

KEITHLEY 4200-SCS/Fは、自動テストおよび測定アプリケーション用に設計されたマルチチャンネル高解像度スキャン/測定システムです。強力なGPIBベースのテストプラットフォームを備えたKEITHLEY 4200 SCS/Fは、さまざまなアプリケーションにわたる汎用性の高いテスト機能を提供します。フレキシブルで使いやすいこのシステムは、最大4つの4 クォードラントSMUチャネルをサポートしているため、半導体の部品や回路の精密測定、データ取得、デバイス特性評価テストのセットアップに最適です。4200 SCS/Fは、4GB RAMを備えた305 MHzプロセッサを搭載しているため、データを迅速に処理し、結果をすばやく表示することができます。最先端のユーザーインターフェイスにより、ユーザーはデバイスと対話し、測定を迅速かつ効率的に制御できます。さらに、4200 SCS/FはSCPIコマンドで制御することができ、DCおよびAC電気試験、測定インピーダンスおよび容量、および電気および磁場のテストを含む組み込みアプリケーションの選択を提供します。KEITHLEY 4200 SCS/FはSource Measure Unit （SMU）技術を搭載しており、別々に測定するのではなく、電圧と電流の両方を同時に測定することができます。これにより、広範囲の周波数でのダイナミックスイープ測定に最適で、4クアドラントと極モードの両方で電圧と電流を正確に制御できます。4200-SCS/Fの測定範囲は、フェムトアンプから まで、 から まで、および までの範囲であり、多様な電気パラメータを正確に評価することができます。さらに、KEITHLEY 4200-SCS/Fは、GPIB、 USB 2。0、 Ethernetなどのさまざまな統合通信オプションを提供し、ユーザー指定の測定機器に接続することができます。KEITHLEY 4200 SCS/Fには補助トリガ出力も含まれており、パルスジェネレータや温度コントローラなどの追加ハードウェアを統合することができます。さらに、4200 SCS/FにはKEITHLEY DC Analysisソフトウェアが含まれており、LabVIEW、 LabWindows/CVI、 LabVIEW Real-Time、 VEE、 Visual Basic、コマンドライン計測制御をサポートしています。要求の厳しい半導体、データ収集およびデバイス特性評価アプリケーションには、4200 SCS/Fは、その広い測定範囲、そのSMU技術、統合された通信オプション、および柔軟なソフトウェアサポートのために理想的な選択肢です。強力なプロセッサ、大きなメモリ、深刻な機能を備えたKEITHLEY 4200 SCS/Fは、最も要求の厳しいタスクに最適です。